Cường Độ Điện Trường - Thiết Bị Đo Tử Trường

Cường Độ Điện Trường - Thiết Bị Đo Tử Trường

Định Nghĩa

Giả sử ta đặt một điện tích

q_{0}\,

tại một điểm

M\,

nào đó trong điện trường, điện tích này phải có giá trị đủ nhỏ để nó không làm thay đổi điện trường mà ta đang xét (gọi là điện tích thử). Như vậy, điện tích

q_{0}\,

sẽ bị điện trường tác dụng một lực

{\vec F}

. Thực nghiệm chứng tỏ tỉ số

{{\vec {F}} \over q_{0}}

không phụ thuộc vào điện tích

q_{0}\,

mà chỉ phụ thuộc vị trí của điểm

M\,

, nghĩa là, tại mỗi điểm xác định trong điện trường, tỉ số:

{\vec {E}}={{\vec {F}} \over q_{0}}={\vec {const}}\,

(*)

Theo đó,

{\vec {E}}

được gọi là vectơ cường độ điện trường, theo nghĩa ta có thể dùng

{\vec {E}}

để đặc trưng cho điện trường (về mặt tác dụng lực) tại điểm đang xét. Độ lớn

E\,

gọi là cường độ điện trường.

Từ biểu thức (*) ta thấy nếu chọn

q_{0}=+1\,

thì

{\vec {E}}={\vec {F}}

nghĩa là:

"Véctơ cường độ điện trường tại một điểm là một đại lượng có trị vectơ bằng lực tác dụng của điện trường lên một đơn vị điện tích dương đặt tại điểm đó."

Trong hệ đơn vị SI, cường độ điện trường được tính bằng

{V \over m}

Vectơ cường độ điện trường gây bởi một điện tích điểm

Dựa vào định nghĩa trên, ta xác định được vectơ cường độ điện trường

{\vec {E}}

gây bởi điện tích điểm

q\,

tại điểm

M\,

{\vec {E}}={{\vec {F}} \over q_{0}}={1 \over {4\pi \ \sigma _{0}}}.{q \over {\sigma r^{2}}}.{{\vec {r}} \over r}\,

(**)

Từ (**) ta nhận thấy:

Nếu $q\,$ là điện tích dương, thì vectơ cường độ điện trường ${\vec {E}}$ do nó gây ra sẽ cùng hướng với bán kính ${\vec {r}}$ (hình a) nghĩa là ${\vec {E}}$ hướng ra xa điện tích $q\,$ .
Nếu $q\,$ là điện tích âm, thì vectơ cường độ điện trường ${\vec {E}}$ do nó gây ra sẽ ngược hướng với bán kính ${\vec {r}}$ (hình b) nghĩa là ${\vec {E}}$ hướng vào điện tích $q\,$ .
Trong cả 2 trường hợp trên, cường độ điện trường tại $M\,$ đều có dạng:

E={1 \over {4\pi \ \sigma _{0}}}.{|q| \over {\sigma r^{2}}}\,

Máy Đo Từ Trường HIOKI FT3470-51

Hioki từ trường mét được thiết kế để đo mật độ từ thông và mức độ phơi nhiễm từ trường, và có thể được sử dụng để đánh giá sự phù hợp để ICNIRP 2010 và IEC / EN62233 và trong nghiên cứu về phơi nhiễm từ trường. Mật độ thông lượng Máy Đo Từ Trường FT3470-51 biện pháp từ tính và tiếp xúc với từ trường sinh ra bởi các sản phẩm được sản xuất tại một trang web của khách hàng hoặc sản xuất bởi các thiết bị trong một môi trường khách hàng, và đi kèm với 1 bộ cảm biến.

Các tính năng chính

Máy Đo Từ Trường Phù hợp với các hướng dẫn của ICNIRP năm 2010 cũng như các tiêu chuẩn khác có liên quan để kiểm tra đánh giá
Tương thích với IEC 62.110 / IEEE 644 và IEC 62233.
Đi kèm với 100 cm2 cảm biến cần thiết cho IEC / EN 62.233 tiêu chuẩn phân tích
Đơn vị hiển thị người dùng lựa chọn (T, A / m, và G)
Khả năng hoạt động trực quan cho phép đo dễ dàng
Đi kèm với phần mềm ứng dụng máy tính

Quay Lại Trang Chính Tại Đây

Ampe Kìm AC

Tìm kiếm Blog này

Cường Độ Điện Trường - Thiết Bị Đo Tử Trường

Nhận xét

Đăng nhận xét